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红外碳硅分析仪的分析的方法
发布日期:[2014-12-19]    共阅[3012]次
    

红外碳硅分析仪的分析的方法
HW2000高频红外碳硅分析仪主要技术指标:
测量范围:碳0.0001%-15000%(可扩至99.999%)
          硫0.0003%-2.0000% (可扩至99.999%)
分析误差:碳符合ISO9556-94标准  硫符合ISO4935-94标准
分析时间:25-60秒可调(一般在35秒左右)
电子天平:称量范围0-100克读数精度:0.001克
HW2000高频红外碳硅分析仪主要特点:
高频感应燃烧、红外检测法,性能稳定、可靠、结果精确
品牌电脑,中文操作、彩色画面、界面清晰、操作简单、方便
动态显示分析仪器过程中的各项数据和碳、硫释放曲线,可储存多条曲线
采用炉头加热、螺旋式自动清扫装置,提高了测量精度;
电子天平不定量称样,提高了分析速度; 
高频电路设计可靠、大功率高频燃烧、功率,可调,适用于各种材质;根据用户需要,可增加双碳池自动切换。
 
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